简要描述:在测量站使用MarSurfXCR20测量粗糙度和轮廓,这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和轮廓测量
在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓,这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和轮廓测量。 根据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。 两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。
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